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快速分析較厚的大尺寸樣品材料
專為鋼鐵、汽車、電子和其他制造行業(yè)設(shè)計(jì)的GX53倒置金相顯微鏡能夠提供傳統(tǒng)顯微鏡觀察方法難以獲得的清晰圖像。
在配合奧林巴斯Stream圖像分析軟件使用情況下，該顯微鏡可讓從觀察到圖像分析及報(bào)告的整個(gè)檢測(cè)流程變得更加順暢。
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檢測(cè)快捷，功能先進(jìn)
快速觀察、測(cè)量和分析金相組織。
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先進(jìn)的分析工具
1. 采用組合觀察方法獲得出**像
2. 輕松生成全景圖像
3. 生成全聚焦圖像
4. 采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域
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針對(duì)材料學(xué)的優(yōu)化
1. 專為材料科學(xué)而設(shè)計(jì)的軟件
2. 符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的金相分析
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人性化
即便新手操作員也能夠輕松完成樣品觀察、結(jié)果分析\報(bào)告創(chuàng)建。
1. 輕松恢復(fù)顯微鏡設(shè)置
2. 用戶指導(dǎo)讓上等分析變得更加簡(jiǎn)單
3. 高效的報(bào)告創(chuàng)建
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先進(jìn)的成像技術(shù)
我們成熟可靠的光學(xué)器件和成像技術(shù)能夠提供清晰的圖像和可靠的檢測(cè)結(jié)果。
1. 可靠的光學(xué)性能：波前像差控制
2. 清晰的圖像：圖像陰影校正
3. 一致的色溫：高強(qiáng)度白光LED照明
4. **測(cè)量：自動(dòng)校準(zhǔn)
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模塊化
根據(jù)您的應(yīng)用要求選擇所需的組件。
1. 打造專屬于您的系統(tǒng)：利用各種選配組件獲得**定制的系統(tǒng)
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先進(jìn)的分析工具
GX53顯微鏡的各種觀察功能可獲得清晰銳利的圖像，讓您能夠?qū)悠愤M(jìn)行可靠的缺陷檢測(cè)。奧林巴斯Stream圖像分析軟件的新型照明技術(shù)和圖像采集方案可為您提供評(píng)估樣品和記錄研究結(jié)果的更多選擇。
從不可見(jiàn)到可見(jiàn)：MIX技術(shù)
MIX技術(shù)將暗場(chǎng)與另一種觀察方法（如明場(chǎng)或偏振）相結(jié)合，讓您能夠觀察傳統(tǒng)顯微鏡難以觀察的樣品。圓形LED照明器的定向暗場(chǎng)功能可在指定時(shí)間照射一個(gè)或多個(gè)象限，從而減少樣品光暈，更好地觀察表面紋理。
印刷電路板切片
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明場(chǎng)
襯底層和通孔不可見(jiàn)。
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暗場(chǎng)
痕跡不可見(jiàn)。
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MIX: 明場(chǎng)+暗場(chǎng)
所有組件均可清晰呈現(xiàn)。
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明場(chǎng)
紋理無(wú)法觀察。
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暗場(chǎng)象限
色彩信息被去除。
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MIX: 明場(chǎng)+暗場(chǎng)象限
材料色彩和紋理均可觀察
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輕松生成全景圖像: 即時(shí)MIA
通過(guò)多圖像拼接(MIA)功能, 您轉(zhuǎn)動(dòng)手動(dòng)載物臺(tái)上的XY旋鈕即可輕松完成圖像拼接—電動(dòng)載物臺(tái)為選配。奧林巴斯Stream軟件采用模式識(shí)別生成全景圖像，特別適合用于檢查滲碳和金屬流動(dòng)情況。
螺栓的金屬流動(dòng)
使用XY旋鈕調(diào)節(jié)載物臺(tái)位置。 可觀察到金屬流動(dòng)的全部狀況。
生成全聚焦圖像EFI
奧林巴斯Stream軟件的景深擴(kuò)展(EFI) 功能可采集高度超出景深范圍的樣品圖像。EFI可將這些圖像堆疊在一起生成單幅的樣品全聚焦圖像。即便分析表面不平坦的切片樣品時(shí)，EFI也能夠創(chuàng)建全聚焦圖像。
EFI配合手動(dòng)或電動(dòng)Z軸聚焦裝置，可生成高度圖像，對(duì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行可視化觀察。
樹脂零件
使用對(duì)焦手柄調(diào)整物鏡高度。 EFI自動(dòng)采集和堆疊多幅圖像，生成單幅的樣品全聚焦圖像。 生成全聚焦圖像。
利用HDR同時(shí)采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域
采用先進(jìn)圖像處理技術(shù)的高動(dòng)態(tài)范圍(HDR)可在圖像內(nèi)調(diào)整亮度差異，從而減少眩光。其也有助于增強(qiáng)低對(duì)比度圖像的對(duì)比度。高動(dòng)態(tài)范圍(HDR)功能可用于觀察電子組件的細(xì)微結(jié)構(gòu)并識(shí)別金屬晶界。
金板
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某些部位存在眩光。 暗光區(qū)域和明亮區(qū)域利用HDR獲得清晰呈現(xiàn)。
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鉻擴(kuò)散涂層
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對(duì)比度低且不清晰。 利用HDR增強(qiáng)對(duì)比度。
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應(yīng)用
采用不同觀察方法所獲得的效果示例。
經(jīng)過(guò)拋光的AlSi樣品（明場(chǎng) / 暗場(chǎng)）
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明場(chǎng) 暗場(chǎng)
明場(chǎng)：一種觀察直接照射樣品反射光的常見(jiàn)觀察方法。
暗場(chǎng)：可觀察樣品的散射或衍射光線，因此諸如微小劃痕或瑕疵等缺陷非常明顯。
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球墨鑄鐵（明場(chǎng) / DIC）
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明場(chǎng) DIC觀察
微分干涉相差顯微技術(shù)(DIC)：一種將樣品高度以類似提高了對(duì)比度的3D圖像，呈現(xiàn)出浮雕效果的觀察技術(shù)；其非常適用于觀察金相結(jié)構(gòu)和礦物等具有極其細(xì)微高度差的樣品。
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鋁合金（明場(chǎng)/偏光）
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明場(chǎng) 偏光觀察
偏光：一種能夠突出材料紋理和晶體狀態(tài)的觀察技術(shù)，用于觀察諸如球墨鑄鐵的石墨生長(zhǎng)類型等金相結(jié)構(gòu)和礦物。
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電子組件（明場(chǎng)/ MIX觀察）
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明場(chǎng) MIX: 明場(chǎng)+暗場(chǎng)
MIX觀察：將明場(chǎng)和暗場(chǎng)相結(jié)合，樣品的顏色和結(jié)構(gòu)均可觀察。
上面的MIX觀察圖像清晰再現(xiàn)了該組件的顏色和紋理以及粘合劑層的狀況。
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